测试原理

材料的透过率(光密度)和材料的遮光性涂镀层厚度成一定的比例关系。这样通过监控材料的光学透过率(光密度)来达到监控材料的均匀性、涂镀层厚度的目的。只要是光能透过的材料，都可以通过监控透光率来监控产品的品质。如卷绕真空镀膜、玻璃镀膜、玻璃生产线、色带、电阻膜、电容膜等有色涂布材料以及有色膜等等。

结构组成

设备分为三部分：探测系统、人机交互设备、电脑实时监控系统。

探测系统:主要包括测试点（光源探头+接收探头）、控制器和铝支架；

人机界面：7寸LCD人机交互界面，显示各个测试点的透过率和光密度数据；

电脑实时监控系统（选配）：数据记录、分析、报表等功能。

此仪器提供双路的RS485通讯接口，标准的MODBUS通讯协议，方便和PLC，单片机，人机界面，组态王，电脑等通讯。镀膜机可以直接读取此设备的光密度数据，实现控制自动化（闭环控制）。

参数

 1.测试波长：根据客户需要选择，目前有如下的选择： 

* 红外线：850 nm（默认选项，抗干扰能力强）

*  绿光： 530nm

2.透过率测量精度：优于±1%

3.透过率分辨率：0.005%

4.光密度测量范围：0.00 OD --- 5.00 OD

5.光密度的分辨率：0.01 OD for 0.00 - 3.00 OD

                0.05 OD for 3.00 - 5.00 OD

6.最大测量点数：36点

7.相邻探测头之间距离：最小70mm

8.发送接收探头之间距离：20mm

9.温度范围： -20°C --- +70°C    

10.数据刷新周期：300ms

11.测控主机尺寸： 80mm（宽）*180mm（高）* 长度(根据客户要求定制)

12.电源：220V AC/50Hz

13.通讯：双路RS485