测试原理
材料的透过率(光密度)和材料的遮光性涂镀层厚度成一定的比例关系。这样通过监控材料的光学透过率(光密度)来达到监控材料的均匀性、涂镀层厚度的目的。只要是光能透过的材料,都可以通过监控透光率来监控产品的品质。如卷绕真空镀膜、玻璃镀膜、玻璃生产线、色带、电阻膜、电容膜等有色涂布材料以及有色膜等等。
结构组成
设备分为三部分:探测系统、人机交互设备、电脑实时监控系统。
探测系统:主要包括测试点(光源探头+接收探头)、控制器和铝支架;
人机界面:7寸LCD人机交互界面,显示各个测试点的透过率和光密度数据;
电脑实时监控系统(选配):数据记录、分析、报表等功能。
此仪器提供双路的RS485通讯接口,标准的MODBUS通讯协议,方便和PLC,单片机,人机界面,组态王,电脑等通讯。镀膜机可以直接读取此设备的光密度数据,实现控制自动化(闭环控制)。

参数
1.测试波长:根据客户需要选择,目前有如下的选择:
* 红外线:850 nm(默认选项,抗干扰能力强)
* 绿光: 530nm
2.透过率测量精度:优于±1%
3.透过率分辨率:0.005%
4.光密度测量范围:0.00 OD --- 5.00 OD
5.光密度的分辨率:0.01 OD for 0.00 - 3.00 OD
0.05 OD for 3.00 - 5.00 OD
6.最大测量点数:36点
7.相邻探测头之间距离:最小70mm
8.发送接收探头之间距离:20mm
9.温度范围: -20°C --- +70°C
10.数据刷新周期:300ms
11.测控主机尺寸: 80mm(宽)*180mm(高)* 长度(根据客户要求定制)
12.电源:220V AC/50Hz
13.通讯:双路RS485