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光学涂镀膜克重检测系统

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光学涂镀膜克重检测系统
光学涂镀膜克重检测系统
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美国L&M光学涂镀膜在线检测系统

工作原理

    涂布(镀膜)产品厚度的纵向、横向均匀度是其重要质量和技术指标。涂布(镀膜)产品的光密度( 光密度 = LOG(1/透过率))和涂布量(镀层)厚度或克重成正比例关系,涂布层(镀层)厚度越厚或越重,光密度值越大,透过率越低。所以通过测量涂布(镀膜)产品的光密度可以监控涂布层(镀膜层)的厚度或克重。

光学密度(厚度或克重)检测系统,适用于各类涂布(镀膜)产品实验室检验与生产线实时监测,通过选择监控产品的可见光透过率,红外线透过率和光密度值(OD),来达到检测和分析产品镀层(涂层)厚度,镀层厚度的均匀性等性能是否在工艺要求之内,在线监测系统更可以帮助操作人员及时了解产品质量,如有问题,即早发现并调整工艺,提高产品品质,降低产品的废品率。

典型应用

    金属镀膜、薄膜涂层、纺织涂层、无纺布涂层厚度检测;玻璃片、薄膜透光率检测;液体雾度检测等。
① 各种菲林胶片,可测绝对光密度,相对光密度,网点面积率。
② X光片,铝膜等材料的光密度测量,测量绝对光密度。
③ 适用于胶片,花纹玻璃,雾状玻璃,吸顶灯罩,镀膜材料等光密度和透光率测试。
④ 水洗唛,水洗标,涂层布的光密度以及透光率检测。

 

5、仪器特点

 一体化设计,结构简单,现场安装维护方便 

 防尘设计

   对于镀膜过程中的粉尘(如镀铝过程)会影响测量光学系统,该系统采用防

尘设计,粉尘不会影响光学系统内部。

 结构简单,性价比高,USB2.0的综合设计适用于科学以及工业的所有应用。

 自动增益控制系统可产生光学密度值,光学密度值在0.00到4.00之间,精准度为±2.5%或整个量程的±1%。

 坚硬的工业设计以及防尘的外壳结构能够适用于恶劣的环境下。

 工作功率低至每个仪器150mA,同时也能够运用多个设备进行简单的多通道检测。

 硅二极管的敏感性在350nm到1100nm之间,900nm的时候很灵敏。

 实时的数据记录功能

 软件包程序提供了一系列的功能。

 

6、仪器参数

 测试波长:350nm到1100nm之间(可调),初始值默认为500nm。

 透过率测量精度:±2.5%

 透过率分辨率:0.005%;

 光密度测量范围:0.00 OD --- 4.00 OD

 光密度的分辨率:

0.1 光密度范围: 0.00 - 3.00 OD

0.5 光密度范围: 3.00 - 4.00 OD

 最大测量点数:12点

 相邻探测头之间距离:最小 70mm

 发射接收探头之间距离:20mm

 温度范围: -40°C --- +85°C

 数据刷新周期:300ms

 通讯:RS232,USB




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