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详细介绍
美国L&M工业在线光学检测系统
涂布(镀膜)产品厚度的纵向、横向均匀度是其重要质量和技术指标。涂布(镀膜)产品的光密度( 光密度 = LOG(1/透过率))和涂布量(镀层)厚度成正比例关系,涂布层(镀层)厚度越厚,光密度值越大,透过率越低。所以通过测量涂布(镀膜)产品的光密度可以监控涂布层(镀膜层)的厚度。
光学密度(厚度)检测系统,适用于各类涂布(镀膜)产品实验室检验与生产线实时监测,通过选择监控产品的可见光透过率,红外线透过率和光密度值(OD),来达到检测和分析产品镀层(涂层)厚度,镀层厚度的均匀性等性能是否在工艺要求之内,在线监测系统更可以帮助操作人员及时了解产品质量,如有问题,即早发现并调整工艺,提高产品品质,降低产品的废品率。
① 测试波长:350nm到1100nm之间(可调),初始值默认为500nm。
② 透过率测量精度:±2.5%
③ 透过率分辨率:0.005%;
④ 光密度测量范围:0.00 OD --- 4.00 OD
⑤ 光密度的分辨率:
0.1 光密度范围: 0.00 - 3.00 OD
0.5 光密度范围: 3.00 - 4.00 OD
⑥ 最大测量点数:12点
⑦ 相邻探测头之间距离:最小 70mm
⑧ 发射接收探头之间距离:20mm
⑨ 温度范围: -40°C --- +85°C
⑩ 数据刷新周期:300ms
⑪ 通讯:RS232,USB